Person Image

    Education

    • วท.บ. (ฟิสิกส์), มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์, ไทย, 2538
    • M.Sc. (Energy Technology), Asian Institute of Technology, ไทย, 2540
    • Dr.rer.nat. (Physics), Ruhr-University Bochum, Germany, 2550

    Expertise Cloud

    Activated CarbonadsorptionAFMCalibrationCassava stumpclay roof tileClay roof tilesCoatingcoatingsCoating-substrateComputer simulationcopper coated carbonCRISPR-Cas12aCRISPR-Cas12a systemCu coated carbonCu-Cdata aquistion.DepositionDeposition processDepth-resolvedDiagnosticDifferent substratesDifferent thicknessDigital lock-in amplifierEngineering controlled terms: Atomic force microscopyEnvironmental cycle assessmentfluorescenceFrequency dependentGallium nitrideGlassHandwritingHeat transportInterfaceInterface resistanceIR Radiometrylife cycle analysisLock-in amplifiermechanical propertyMillimeter rangemirage effectMirage effectsModulated IR radiometryModulation frequenciesMulti-layer systemnano- and micro-scale photothermal measurementsnarrow-leaved cattail fibersnatural fiberNiWO nanorodNon destructiveNondestructive methodNon-destructive MethodOblique angle depositionOscilloscopePen pressurePhotoacousticPhotoacousticsPhotodeflection techniquePhotothermalPhoto-thermal deflection techniquePhotothermal measurementsphysical propertyPhysics laboratoriespineapplepineapple fiberPre-TreatmentPVD coatingRadiometersRadiometryRaman SpectroscopyReactive co-magnetron sputteringRLC circuitScanning electron microscopySemiconducting aluminum compoundsSi and glassSolid State SpectroscopySoundcardSpectroscopySputter depositionSputter-deposited thin filmsStainless steelStyle characteristicsSubmicronSubstrate preparationSubstratesSubstrates of stainless steelSurface layersSurface topographytemperature anomalyTernary oxideThermal analysisThermal characterizationThermal conductivityThermal InsulationThermal transport propertieswaste to energyการจัดการความรู้นิสิตผลลัพธ์การเรียนรู้มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์ศึกษาทั่วไป

    Interest

    Solid State Spectroscopy, Energy Technology

    Administrative Profile

    • ส.ค. 2565 - ปัจจุบัน ผู้ช่วยอธิการบดีฝ่ายพัฒนาบัณฑิตขั้นสูงและโครงการจัดตั้งวิทยาเขตสุพรรรบุรี มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
    • มิ.ย. 2561 - มี.ค. 2565 รองคณบดีฝ่ายวิชาการ คณะวิทยาศาสตร์
    • เม.ย. 2561 - มิ.ย. 2561 รองคณบดีฝ่ายบริการการศึกษา คณะวิทยาศาสตร์
    • ต.ค. 2552 - ก.ย. 2556 รองหัวหน้าภาควิชาฟิสิกส์ คณะวิทยาศาสตร์

    Resource

    • จำนวนหน่วยปฏิบัติการที่เข้าร่วม 0 หน่วย
    • จำนวนเครื่องมือวิจัย 0 ชิ้น

    งานวิจัยในรอบ 5 ปี

    Project

    งานวิจัยที่อยู่ระหว่างการดำเนินการ
    • ทุนใน 0 โครงการ
    • ทุนนอก 1 โครงการ (ผู้ร่วมวิจัย 1 โครงการ)
    งานวิจัยที่เสร็จสิ้นแล้ว
    • ทุนใน 9 โครงการ (หัวหน้าโครงการ 8 โครงการ, ผู้ร่วมวิจัย 1 โครงการ)
    • ทุนนอก 2 โครงการ (ผู้ร่วมวิจัย 2 โครงการ)

    แนวโน้มผลงานทั้งหมดเทียบกับแนวโน้มผลงานในรอบ 5 ปี

    Output

    • บทความ 45 เรื่อง (ตีพิมพ์ในวารสารวิชาการ 23 เรื่อง, นำเสนอในการประชุม/สัมมนา 22 เรื่อง)
    • ทรัพย์สินทางปัญญา 0 เรื่อง (ลิขสิทธิ์ 0 เรื่อง, เครื่องหมายการค้า 0 เรื่อง, อนุสิทธิบัตร 0 เรื่อง, สิทธิบัตร 0 เรื่อง)
    • สิ่งประดิษฐ์ 0 เรื่อง (ขึ้นทะเบียนพันธุ์พืช หรือพันธุ์สัตว์ หรือสิ่งประดิษฐ์ มก. 0 เรื่อง)
    • Unknown 0 เรื่อง (Unknown 0 เรื่อง)

    แนวโน้มการนำผลงานไปใช้ประโยชน์ในด้านต่างๆ

    Outcome

    • การนำผลงานไปใช้ประโยชน์ 1 เรื่อง (เชิงวิชาการ 1 เรื่อง, เชิงนโยบาย/บริหาร 0 เรื่อง, เชิงสาธารณะ 0 เรื่อง, เชิงพาณิชย์ 0 เรื่อง)

    รางวัลที่ได้รับ

    Award

    • รางวัลที่ได้รับ 3 เรื่อง (ประกาศเกียรติคุณ/รางวัลนักวิจัย 1 เรื่อง, รางวัลผลงานวิจัย/สิ่งประดิษฐ์ 0 เรื่อง, รางวัลผลงานนำเสนอในการประชุมวิชาการ 2 เรื่อง)


    Scopus h-index

    #Document titleAuthorsYearSourceCited by
    1The influence of mechanical adhesion of copper coatings on carbon surfaces on the interfacial thermal contact resistanceNeubauer E., Neubauer E., Korb G., Eisenmenger-Sittner C., Bangert H., Chotikaprakhan S., Dietzel D., Mansanares A., Bein B.2003Thin Solid Films
    433(1-2 SPEC.),pp. 160-165
    54
    2Radiometric Analysis of Laser Modulated IR Properties of SemiconductorsDietzel D., Gibkes J., Chotikaprakhan S., Bein B., Pelzl J.2003International Journal of Thermophysics
    24(3),pp. 741-755
    13
    3The thermal contact problem in nano- and micro-scale photothermal measurementsPelzl J., Chotikaprakhan S., Dietzel D., Bein B., Neubauer E., Chirtoc M.2008European Physical Journal: Special Topics
    153(1),pp. 335-342
    11
    4Thermal expansion imaging and finite element simulation of hot lines in high power AlGaN HEMT devicesDietzel D., Meckenstock R., Chotikaprakhan S., Bolte J., Pelzl J., Aubry R., Jacquet J., Cassette S.2004Superlattices and Microstructures
    35(3-6),pp. 477-484
    10
    5Loss of adhesion strength of PVD Cu films on carbon substrates after heat treatment and correlated effects on the thermal interface propertiesNeubauer E., Chotikaprakhan S., Dietzel D., Bein B., Pelzl J., Eisenmenger-Sittner C., Schrank C., Korb G.2006Applied Surface Science
    252(15),pp. 5432-5436
    6
    6Interface resistance in copper coated carbon determined by frequency dependent photothermal radiometryKijamnajsuk P., Giuliani F., Chirtoc M., Horny N., Gibkes J., Chotikaprakhan S., Chotikaprakhan S., Bein B., Pelzl J.2010Journal of Physics: Conference Series
    214
    5
    7Analysis of active semiconductor structures by combined SThM and SThEMDietzel D., Chotikaprakhan S., Bein B., Pelzl J.2005Journal De Physique. IV : JP
    125,pp. 87-91
    5
    8Modulated IR radiometry as a tool for the thickness control of coatingsChotikaprakhan S., Vaz F., Faria R., Faria R., Faria R., Fernandes A., Kijamnajsuk P., Kijamnajsuk P., Gibkes J., Bein B., MacEdo F.2010Journal of Physics: Conference Series
    214
    3
    9Heat treatment-induced bond layer diffusion and re-crystallization in copper carbon interface systems measured by modulated IR radiometryChotikaprakhan S., Chotikaprakhan S., Haj-Daoud A., Haj-Daoud A., Neubauer E., Pelzl J., Bein B., Meckenstock R., Meckenstock R.2008European Physical Journal: Special Topics
    153(1),pp. 391-394
    2
    10Simulation of photothermal measurements on Cu-Carbon interface systemsChotikaprakhan S., Chotikaprakhan S., Dietzel D., Pelzl J., Neubauer E., Neubauer E., Bein B.2005Journal De Physique. IV : JP
    125,pp. 399-402
    2
    11Evaluation of active semiconductor structures by combined scanning thermo-elastic microscopy and finite element simulationsFotsing J., Dietzel D., Chotikaprakhan S., Meckenstock R., Pelzl J., Cassette S.2005Journal De Physique. IV : JP
    125,pp. 117-120
    2
    12Laser modulated optical reflectance of thin semiconductor films on glassFotsing J., Hoffmeyer M., Chotikaprakhan S., Dietzel D., Pelzl J., Bein B., Cerqueira F., Macedo F., Ferreira J.2003Review of Scientific Instruments
    74(1 II),pp. 873-876
    2
    13Identification of efficient deposition conditions based on the determination of the effective thermal transport properties of Cu-C interface systemsChotikaprakhan S., Chotikaprakhan S., Dietzel D., Neubauer E., Neubauer E., Bein B., Pelzl J.2005Journal De Physique. IV : JP
    125,pp. 395-398
    2
    14The influence of the thermal contact resistance on the thermal behavior of copper-carbon compositesNeubauer E., Smid I., Chotikaprakhan S., Dietzel D., Bein B.K., Korb G.2005Advances in Powder Metallurgy and Particulate Materials - 2005, Proceedings of the 2005 International Conference on Powder Metallurgy and Particulate Materials, PowderMet 2005
    ,pp. 16-26
    2
    15Digital lock-in amplifier based on soundcard interface for physics laboratorySinlapanuntakul J., Kijamnajsuk P., Jetjamnong C., Chotikaprakhan S.2017Journal of Physics: Conference Series
    901(1)
    2
    16Growth and characterization of NiWO nanorod films prepared by reactive magnetron co-sputtering with oblique angle depositionJetjamnong C., Chotikaprakhan S., Kowong R., Chananonnawathorn C., Bootchanont A., Lertvanithphol T., Limwichean S., Kijamnajsuk P., Klamchuen A., Meng G., Watcharapasorn A., Nakajima H., Horprathum M.2021Vacuum
    2
    17Computer soundcard as an AC signal generator and oscilloscope for the physics laboratorySinlapanuntakul J., Kijamnajsuk P., Jetjamnong C., Chotikaprakhan S.2018AIP Conference Proceedings
    1923
    1
    18Laser modulated IR transmission of semiconductorsDietzel D., Gibkes J., Chotikaprakhan S., Bein B., Pelzl J.2005Journal De Physique. IV : JP
    125,pp. 635-638
    1
    19Cu-C interface systems evaluated with the help of the thermal wave contrastChotikaprakhan S., Chotikaprakhan S., Haj-Daoud A., Haj-Daoud A., Dietzel D., Dietzel D., Meckenstock R., Meckenstock R., Neubauer E., Pelzl J., Bein B.2008European Physical Journal: Special Topics
    153(1),pp. 175-178
    1
    20Sputter deposition of thin films on different substrate materials analyzed by means of modulated IR radiometryMacedo F., Chotikaprakhan S., Kijamnajsuk P., Kijamnajsuk P., Vaz F., Faria R., Faria R., Gibkes J., Pelzl J., Bein B.2011Surface and Coatings Technology
    205(SUPPL. 2)
    1
    21High-temperature thermal wave measurements of Cu-C interface systemsChotikaprakhan S., Chotikaprakhan S., Dietzel D., Pelzl J., Neubauer E., Neubauer E., Bein B.2005Journal De Physique. IV : JP
    125,pp. 233-236
    0
    22Characteristics of Activated Carbon from Cassava Stump Prepared at High Temperatures Using Physical Reactivation and Rapid ProcedureSinlapanuntakul J., Viriyathonphan P., Wiriyatornphan C., Chotikaprakhan S.2023EnvironmentAsia
    16(2),pp. 162-173
    0
    23Development of Real-Time Fluorescence CRISPR/Cas12a-Based Detection as a Portable Diagnostic System Using Integrated CircuitsThairat C., Kijamnajsuk P., Chotikaprakhan S., Kuleung C., Chen J.J.2024Applied Science and Engineering Progress
    17(1)
    0
    24The Measurement of Thermal Diffusivity in Conductor and Insulator by Photodeflection TechniqueAchathongsuk U., Rittidach T., Tipmonta P., Kijamnajsuk P., Chotikaprakhan S.2017Journal of Physics: Conference Series
    901(1)
    0
    25Thermal Characterization of Clay Roof Tile Using Photothermal Deflection TechniqueRittidach T., Kijamnajsuk P., Tipmonta P., Chotikaprakhan S.2017Journal of Physics: Conference Series
    901(1)
    0
    26FWHM calculation of zircon gem-materials before and after thermal enhancementWattananurak P., Monarumit N., Chooyoung R., Wonin K., Chotikaprakhan S., Satitkune S.2017Key Engineering Materials
    737 KEM,pp. 599-603
    0