Person Image

Administration

Education

  • วท.บ. (ฟิสิกส์), มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์, ไทย, 2538
  • M.Sc. (Energy Technology), Asian Institute of Technology, ไทย, 2540
  • Dr.rer.nat. (Physics), Ruhr-University Bochum, Germany, 2550

Expertise Cloud

Energy TechnologyActivated CarbonAdhesionAFMBiasing effectsBlue colorsclay roof tileClay roof tilesCoatingcoatingsCoating-substrateComputer simulationcopper coated carbonCu coated carbonCu-Cdata aquistion.DepositionDeposition processDepth-resolvedDifferent substratesDifferent thicknessDigital lock-in amplifierEngineering controlled terms: Atomic force microscopyFinite element methodFrequency dependentGallium nitrideGlassHeat transportInterfaceinterface resistanceIR RadiometryLock-in amplifiermechanical propertyMillimeter rangeMirage EffectMirage effectsModulated IR radiometryModulation frequenciesMulti-layer systemnano- and micro-scale photothermal measurementsnarrow-leaved cattail fibersnatural fiberNon destructiveNondestructive methodNon-destructive MethodOscilloscopePhotoacousticPhotoacousticsPhotodeflection techniquePhotothermalPhoto-thermal deflection techniquePhotothermal measurementsphysical propertyPhysics laboratoriespineapplepineapple fiberPre-TreatmentPVD coatingRadiometersRadiometryRaman SpectroscopyRLC circuitScanning electron microscopySemiconducting aluminum compoundsSi and glassSolid State SpectroscopySoundcardSpectroscopySputter depositionSputter-deposited thin filmsStainless steelSubmicronSubstrate preparationSubstratesSubstrates of stainless steelSurface layersSurface topographyThermal analysisThermal characterizationthermal conductivitythermal diffusivityThermal enhancementThermal expansionthermal insulationThermal transport propertiesThin filmsTransport propertiesVapor depositionXRDZircon structureZrN filmsกรอบมาตรฐานคุณวุฒิระดับอุดมศึกษาการกะเทาะเปลือกข้าวการจัดการความรู้นิสิตผลลัพธ์การเรียนรู้มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตรเมล็ดพันธุ์ศึกษาทั่วไป

Interest

Solid State Spectroscopy, Energy Technology

Administrative Profile


Resource

  • จำนวนหน่วยปฏิบัติการที่เข้าร่วม 0 หน่วย
  • จำนวนเครื่องมือวิจัย 0 ชิ้น

งานวิจัยในรอบ 5 ปี

Project

งานวิจัยที่อยู่ระหว่างการดำเนินการ
  • ทุนใน 0 โครงการ
  • ทุนนอก 0 โครงการ
งานวิจัยที่เสร็จสิ้นแล้ว
  • ทุนใน 9 โครงการ (หัวหน้าโครงการ 8 โครงการ, ผู้ร่วมวิจัย 1 โครงการ)
  • ทุนนอก 2 โครงการ (ผู้ร่วมวิจัย 2 โครงการ)

แนวโน้มผลงานทั้งหมดเทียบกับแนวโน้มผลงานในรอบ 5 ปี

Output

  • บทความ 38 เรื่อง (ตีพิมพ์ในวารสารวิชาการ 18 เรื่อง, นำเสนอในการประชุม/สัมมนา 20 เรื่อง)

แนวโน้มการนำผลงานไปใช้ประโยชน์ในด้านต่างๆ

Outcome

  • การนำผลงานไปใช้ประโยชน์ 0 เรื่อง (เชิงวิชาการ 0 เรื่อง, เชิงนโยบาย/บริหาร 0 เรื่อง, เชิงสาธารณะ 0 เรื่อง, เชิงพาณิชย์ 0 เรื่อง)

รางวัลที่ได้รับ

Award

  • รางวัลที่ได้รับ 2 เรื่อง (ประกาศเกียรติคุณ/รางวัลนักวิจัย 1 เรื่อง, รางวัลผลงานวิจัย/สิ่งประดิษฐ์ 0 เรื่อง, รางวัลผลงานนำเสนอในการประชุมวิชาการ 1 เรื่อง)

นักวิจัยที่มีผลงานงานร่วมกันมากที่สุด 10 คนแรก


Scopus h-index

#Document titleAuthorsYearSourceCited by
1The influence of mechanical adhesion of copper coatings on carbon surfaces on the interfacial thermal contact resistanceNeubauer E., Neubauer E., Korb G., Eisenmenger-Sittner C., Bangert H., Chotikaprakhan S., Dietzel D., Mansanares A., Bein B.2003Thin Solid Films
433(1-2 SPEC.),pp. 160-165
50
2Radiometric Analysis of Laser Modulated IR Properties of SemiconductorsDietzel D., Gibkes J., Chotikaprakhan S., Bein B., Pelzl J.2003International Journal of Thermophysics
24(3),pp. 741-755
12
3The thermal contact problem in nano- and micro-scale photothermal measurementsPelzl J., Chotikaprakhan S., Dietzel D., Bein B., Neubauer E., Chirtoc M.2008European Physical Journal: Special Topics
153(1),pp. 335-342
10
4Thermal expansion imaging and finite element simulation of hot lines in high power AlGaN HEMT devicesDietzel D., Meckenstock R., Chotikaprakhan S., Bolte J., Pelzl J., Aubry R., Jacquet J., Cassette S.2004Superlattices and Microstructures
35(3-6),pp. 477-484
10
5Loss of adhesion strength of PVD Cu films on carbon substrates after heat treatment and correlated effects on the thermal interface propertiesNeubauer E., Chotikaprakhan S., Dietzel D., Bein B., Pelzl J., Eisenmenger-Sittner C., Schrank C., Korb G.2006Applied Surface Science
252(15),pp. 5432-5436
6
6Interface resistance in copper coated carbon determined by frequency dependent photothermal radiometryKijamnajsuk P., Giuliani F., Chirtoc M., Horny N., Gibkes J., Chotikaprakhan S., Chotikaprakhan S., Bein B., Pelzl J.2010Journal of Physics: Conference Series
214
4
7Analysis of active semiconductor structures by combined SThM and SThEMDietzel D., Chotikaprakhan S., Bein B., Pelzl J.2005Journal De Physique. IV : JP
125,pp. 87-91
4
8Modulated IR radiometry as a tool for the thickness control of coatingsChotikaprakhan S., Vaz F., Faria R., Faria R., Faria R., Fernandes A., Kijamnajsuk P., Kijamnajsuk P., Gibkes J., Bein B., MacEdo F.2010Journal of Physics: Conference Series
214
3
9Heat treatment-induced bond layer diffusion and re-crystallization in copper carbon interface systems measured by modulated IR radiometryChotikaprakhan S., Chotikaprakhan S., Haj-Daoud A., Haj-Daoud A., Neubauer E., Pelzl J., Bein B., Meckenstock R., Meckenstock R.2008European Physical Journal: Special Topics
153(1),pp. 391-394
2
10Simulation of photothermal measurements on Cu-Carbon interface systemsChotikaprakhan S., Chotikaprakhan S., Dietzel D., Pelzl J., Neubauer E., Neubauer E., Bein B.2005Journal De Physique. IV : JP
125,pp. 399-402
2
11Evaluation of active semiconductor structures by combined scanning thermo-elastic microscopy and finite element simulationsFotsing J., Dietzel D., Chotikaprakhan S., Meckenstock R., Pelzl J., Cassette S.2005Journal De Physique. IV : JP
125,pp. 117-120
2
12Laser modulated optical reflectance of thin semiconductor films on glassFotsing J., Hoffmeyer M., Chotikaprakhan S., Dietzel D., Pelzl J., Bein B., Cerqueira F., Macedo F., Ferreira J.2003Review of Scientific Instruments
74(1 II),pp. 873-876
2
13Identification of efficient deposition conditions based on the determination of the effective thermal transport properties of Cu-C interface systemsChotikaprakhan S., Chotikaprakhan S., Dietzel D., Neubauer E., Neubauer E., Bein B., Pelzl J.2005Journal De Physique. IV : JP
125,pp. 395-398
2
14The influence of the thermal contact resistance on the thermal behavior of copper-carbon compositesNeubauer E., Smid I., Chotikaprakhan S., Dietzel D., Bein B.K., Korb G.2005Advances in Powder Metallurgy and Particulate Materials - 2005, Proceedings of the 2005 International Conference on Powder Metallurgy and Particulate Materials, PowderMet 2005
,pp. 16-26
2
15Digital lock-in amplifier based on soundcard interface for physics laboratorySinlapanuntakul J., Kijamnajsuk P., Jetjamnong C., Chotikaprakhan S.2017Journal of Physics: Conference Series
901(1)
1
16Laser modulated IR transmission of semiconductorsDietzel D., Gibkes J., Chotikaprakhan S., Bein B., Pelzl J.2005Journal De Physique. IV : JP
125,pp. 635-638
1
17Cu-C interface systems evaluated with the help of the thermal wave contrastChotikaprakhan S., Chotikaprakhan S., Haj-Daoud A., Haj-Daoud A., Dietzel D., Dietzel D., Meckenstock R., Meckenstock R., Neubauer E., Pelzl J., Bein B.2008European Physical Journal: Special Topics
153(1),pp. 175-178
1
18Sputter deposition of thin films on different substrate materials analyzed by means of modulated IR radiometryMacedo F., Chotikaprakhan S., Kijamnajsuk P., Kijamnajsuk P., Vaz F., Faria R., Faria R., Gibkes J., Pelzl J., Bein B.2011Surface and Coatings Technology
205(SUPPL. 2)
1
19High-temperature thermal wave measurements of Cu-C interface systemsChotikaprakhan S., Chotikaprakhan S., Dietzel D., Pelzl J., Neubauer E., Neubauer E., Bein B.2005Journal De Physique. IV : JP
125,pp. 233-236
0
20The Measurement of Thermal Diffusivity in Conductor and Insulator by Photodeflection TechniqueAchathongsuk U., Rittidach T., Tipmonta P., Kijamnajsuk P., Chotikaprakhan S.2017Journal of Physics: Conference Series
901(1)
0
21Thermal Characterization of Clay Roof Tile Using Photothermal Deflection TechniqueRittidach T., Kijamnajsuk P., Tipmonta P., Chotikaprakhan S.2017Journal of Physics: Conference Series
901(1)
0
22Computer soundcard as an AC signal generator and oscilloscope for the physics laboratorySinlapanuntakul J., Kijamnajsuk P., Jetjamnong C., Chotikaprakhan S.2018AIP Conference Proceedings
1923
0
23FWHM calculation of zircon gem-materials before and after thermal enhancementWattananurak P., Monarumit N., Chooyoung R., Wonin K., Chotikaprakhan S., Satitkune S.2017Key Engineering Materials
737 KEM,pp. 599-603
0