desc:
การศึกษาโครงสร้างฟิล์มบางกราฟีนปลูกบน SiC(0001)โดยเทคนิคกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนโดยใช้แสงซินโครตรอน Photoemission Electron Microscopy (PEEM)