Journal

Article
Evaluation of active semiconductor structures by combined scanning thermo-elastic microscopy and finite element simulations
Journal
J. Phys. IV France (ISSN: 11554339)
Volume
125
Issue
-
Year
มกราคม 2005
Page
117-120
Class
นานาชาติ
DOI
10.1051/jp4:2005125027
Related Link
-