Journal

Identification of F impurities in F-doped ZnO by synchrotron X-ray absorption near edge structures
Journal of Applied Physics (ISSN: 00218979)
123
16
161528
เมษายน 2018
นานาชาติ
-
-
https://doi.org/10.1063/1.4997356
-

Author

Output From Project

การระบุหาความบกพร่องของฟลูออรีนในซิงค์ออกไซด์ที่เจือด้วยฟลูออรีนด้วยวิธีการศึกษาการดูดกลืนเอกซ์เรย์ในย่านใกล้ขอบ