Conference

Article
Interfacial Oxide Defect Mediated Ballistic Electron Transport for ITO/p-Si Contact
Conference
2014 11th International Conference on Electrical Engineering/Electronics, Computer, Telecommunications and Information Technology. (ECTI-2014) (ISBN: 9781479929924)
Class
นานาชาติ
Date
14 - 17 พฤษภาคม 2014
Location
เมือง นครราชสีมา ประเทศไทย
DOI
-
Related Link
-

Author

Output From Project

การสร้างโครงสร้างแบบนาโนแชนแนลด้วยจุดบกพร่องของชั้นออกไซด์ เพื่อรองรับการเคลื่อนที่แบบบอลลิสติคอิเล็คตรอนโดยกระบวนการสร้างแบบนาโนทิป

Outcome

  • เชิงวิชาการ :- ใช้ในการเรียนการสอน รหัสวิชา 01205599 ชื่อวิชา Thesis,8 ก.ย. 2015 - 12 พ.ย. 2015
  • เชิงวิชาการ :- ใช้ในการเรียนการสอน รหัสวิชา 01205334 ชื่อวิชา Solid-State Electronics,9 ก.ย. 2014 - 25 ก.ย. 2014