Conference

Article
A data-envelopment-analysis inspired method for reliability target setting
Conference
ECTI-CON 2010 , 7th International Conference on Electrical Engineering/Electronics, Computer, Telecommunications and Information Technology (ISBN: 9789746724913)
Class
นานาชาติ
Date
19 พฤษภาคม 2010
Location
เชียงใหม่ ประเทศไทย
DOI
-
Related Link
-